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電化學(xué)原子力顯微鏡EC-AFM-掃描的產(chǎn)品概述 多功能原子力顯微鏡平臺(tái)，滿(mǎn)足納米級(jí)測(cè)量的需求 原子力顯微鏡（AFM)有納米級(jí)分辨率成像以及電，磁，熱和機(jī)器性能測(cè)量的能力。 納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導(dǎo)顯微鏡（SICM). 倒置光學(xué)顯微鏡（IOM）便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。

高阻抗（T歐級(jí)）涂層測(cè)試儀- 腐蝕電化學(xué)的產(chǎn)品概述 PGU IMP Micro是為德國(guó)弗勞恩霍夫陶瓷技術(shù)和系統(tǒng)研究所（Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme，IKTS）特殊設(shè)計(jì)的。在IPS愛(ài)譜斯標(biāo)準(zhǔn)阻抗恒電位儀PGU 10V-1A-IMP-S的基礎(chǔ)上升級(jí)成一個(gè)可靠測(cè)量高阻抗的恒電位儀PGU IMP Micro。

產(chǎn)品概述 此系統(tǒng)統(tǒng)合了電解池內(nèi)的腐蝕性解質(zhì)的腐蝕、機(jī)械拉伸和疲勞測(cè)試，以及外加的電化學(xué)腐蝕（施加或者測(cè)試），全面模擬評(píng)估了材料在使用環(huán)境下的腐蝕性研究。 電化學(xué)拉伸和疲勞測(cè)試儀

螺栓應(yīng)力腐蝕檢測(cè)儀作為對(duì)來(lái)自 Lichtenstein 的工具制造商的機(jī)械張力測(cè)試設(shè)備的補(bǔ)充，我們提供了用于安裝螺栓電化學(xué)測(cè)試的組件，對(duì)緊固件進(jìn)行機(jī)械和電化學(xué)檢查。 Hilti 設(shè)計(jì)了帶有強(qiáng)力彈簧的負(fù)載裝置拉那個(gè)螺絲。 同時(shí)對(duì)螺桿施加 -XXXX mV 的陰極電壓負(fù)載，以在螺桿處產(chǎn)生氫氣。 通過(guò)“氫脆化”，對(duì)緊固件進(jìn)行機(jī)械和電化學(xué)檢查。 螺桿必須承受這種機(jī)械和電化學(xué)負(fù)載 XXXX 小時(shí)。

氫氣氣氛高壓腐測(cè)試系統(tǒng)該裝置的主要任務(wù)是研究氫氣氣氛下材料的耐受性。除了標(biāo)準(zhǔn)組件外，我們還安裝了安全部件。此安裝必須獲得德國(guó)TÜV的單獨(dú)認(rèn)可，相當(dāng)于ATEX單獨(dú)認(rèn)可。

多通道涂層劃痕評(píng)價(jià)裝置是一種用于評(píng)估涂層耐劃痕性能的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。它具有多個(gè)通道，可以同時(shí)對(duì)多個(gè)涂層樣品進(jìn)行劃痕實(shí)驗(yàn)，提高了實(shí)驗(yàn)效率和評(píng)估準(zhǔn)確性。 　　該裝置通常由以下幾個(gè)部分組成： 　　劃痕試驗(yàn)機(jī)：用于產(chǎn)生劃痕的設(shè)備，可以通過(guò)控制劃痕的力度、速度和劃痕長(zhǎng)度等參數(shù)來(lái)模擬實(shí)際使用中的劃痕情況。